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二氧化硅粒度标准颗粒是一类以高纯度二氧化硅为主要材质、具有准确且稳定粒径特征的标准参考颗粒，主要用于粒度测量仪器的校准、检定、性能确认及期间核查。 相比聚苯乙烯标准颗粒，二氧化硅材质具有较好的化学稳定性、耐热性和机械稳定性，适用于对无机颗粒、粉体、矿物材料及其他二氧化硅相关样品进行粒度测量与方法验证。其颗粒通常具有规则的球形形貌、光滑的表面以及较窄的粒径分布，可降低颗粒形状和粒径分布差异对测量结果造成的影响。 在实际应用中，二氧化硅粒度标准颗粒可作为已知粒径的标准参照物，用于验证仪器的粒径测量准确度、重复性和稳定性，并可帮助用户及时发现仪器漂移、测试条件变化或操作误差。产品可根据不同仪器及应用需求提供多种粒径规格，广泛应用于激光粒度仪、电子显微镜、动态光散射仪、图像法粒度分析仪及其他粒度表征设备。 此外，二氧化硅颗粒的密度、折射率等物性参数相对明确，在光学粒度测量和方法开发中具有较好的参考价值，因此尤其适合用于粒度分析方法的建立、验证和实验室质量控制。
| 标称粒径 |
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